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美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀S1-554/2
簡要描述：測試電壓：50V~5000V測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進遞增測試電阻（阻抗）顯示Z大讀數(shù)15TΩ，顯示Z小讀數(shù)10KΩ 短路電流：5mA實時輸出：能連續(xù)不斷的輸出測試電壓，電流和阻抗
產品型號：S1-554/2- 品牌：MEGGER/美國
- 更新時間：2024-09-03
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S1-554/2美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀S1-554/2的詳細資料：
簡單介紹
測試電壓：50V~5000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進遞增
測試電阻（阻抗）顯示zui大讀數(shù)15TΩ，顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流：5mA
實時輸出：能連續(xù)不斷的輸出測試電壓，電流和阻抗
| 美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀S1-554/2的詳細介紹 |
| 美國Megger （AVO） S1-554/2 5KV絕緣電阻測試儀（高壓兆歐表） （替代S1-5001、S1-5005） 產品特點： ▲全新的S1-554/2絕緣電阻測試儀是MEGGER特別設計, 用來測試和維護高壓設備的*儀器。 ▲雙路電源輸入設計：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內置可以充電電池供電。這樣有一個好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時候，都可以來進行測試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測試結果 ▲測試電壓由 50V至5KV可調 測試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V（步進）微調，1KV-5V的范圍里以25V（步進）微調。 ▲絕緣電阻測量測試范圍15TΩ,用于對高質量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。
▲絕緣電阻測試儀內置五種可設置工業(yè)標準絕緣測試程序，可實現(xiàn)全自動測試，提供全部分析結果： ▲全新設計的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據。 ▲絕緣電阻測試儀顯示的信息：絕緣阻值，實時測試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時間常數(shù)。同時，每次測試時LCD上還會顯示已測試時間，這就不需要在測試時額外計時。 ▲絕緣電阻測試儀內置了多個計時器，還具備絕緣測試設限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個接地端子，使儀器能提高其精確性。 ▲儀器的標號分別標在儀器的頂部和旁邊，方便儲存或者運輸?shù)臅r候辨認。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機器附帶的說明書里面。 產品功能： 內置多種自動測試程序： ▲IR 絕緣電阻測試、 ▲DAR 吸收比測試 （介電吸收率）、 ▲PI 極化指數(shù)測試、 ▲SV 步進電壓（跨步電壓）測試 ▲DD 測試 （介質放電）） ▲絕緣電阻zui大測試范圍15TΩ, ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據 ▲儀器內置32KB存儲器可保存測試結果:電壓，測試時間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 產品技術指標： 電源 95-240V，50/60 Hz 60VA 電池使用時間 在5KV 狀態(tài)下，可進行6小時連續(xù)測試 測試電壓（DC） 50~1KV到 1 kV 以10V為步進電壓 1 kV 到 5 kV 以25V為步進電壓 精度 ± 5% 1TΩ （23°C） ± 20% 10TΩ 短路電流/ 5mA 充電時間 在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時間≤1.5 s /μF 電容放電時間 放電從 5000 V 到 50 V時間為≤ 120ms/μF 電容測量 10nF 到 50µF（取決于測量電壓） 電容測量精度 ± 5% ± 5nF （23°C） 電壓輸出精度 基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ （0°C-30°C） ±25V非標測試電壓（<500V） 測試電流范圍 0.01mA to 5mA 測量電流精度 ±5% ±0.2 mA （23°C） 抗干擾 4mA rms @ 200 V 顯示 3位數(shù)字/模擬顯示 計時器量程 99分鐘59秒 導線 3條（ 內存容量 32KB 其它測試性能 IR，PI，DAR，DD，SV 實時輸出 能連續(xù)不斷的輸出測試電壓，電流和阻抗 傳輸接口 RS232 和 USB 數(shù)據存儲 電壓，測試時間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 工作溫度 儲存溫度 濕度 90% RH非凝固@ 保護等級 IP65 安全標準 符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V EMC 符合EN61326-1：1998 外形尺寸 重量 7．1公斤 產品持有證書 CE 絕緣電阻測試儀測試指標名詞解釋 （PI） 極化指數(shù)測試 極化指數(shù)：在同一次試驗中，10min時的絕緣電阻值與1min時的絕緣電阻值之比。 （DAR） 感應吸收比（誘電吸收比）測試 吸收比：在同一次試驗中，60s時的絕緣電阻值與15s時的絕緣電阻值之比。 （SV） 步進電壓測試 （DD） 介質放電（誘電體放電）
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鄭由軍
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